VANNI DALLASEN , R. (2020) “SimulaÇÃo de jitter induzido por ruÍdo da tensÃo alimentaÇÃo em um VCO em anel CMOS”, Salão do Conhecimento, 6(6). Disponível em: https://www.publicacoeseventos.unijui.edu.br/index.php/salaoconhecimento/article/view/18594 (Acessado: 22 setembro 2026).