VANNI DALLASEN , RICARDO, et al. “SimulaÇÃo De Jitter Induzido Por ruÍdo Da tensÃo alimentaÇÃo Em Um VCO Em Anel CMOS”. Salão Do Conhecimento, vol. 6, nº 6, outubro de 2020, https://www.publicacoeseventos.unijui.edu.br/index.php/salaoconhecimento/article/view/18594.